科学

特征波长筛选在近红外光谱测定梨硬度中的应用

admin2022-12-15 21:17 77人已围观 下载完整内容

简介为了提高应用近红外光谱分析技术快速测定梨硬度的精度和稳定性，该研究采用联合区间偏最小二乘和遗传算法（siPLS-GA）在校正模型中用来筛选特征光谱区域和波长，通

为了提高应用近红外光谱分析技术快速测定梨硬度的精度和稳定性，该研究采用联合区间偏最小二乘和遗传算法（siPLS-GA）在校正模型中用来筛选特征光谱区域和波长，通过交互验证法确定模型的主成分因子数和筛选的波长，并以预测均方根误差（RMSEP）和相关系数（Rp）作为模型的评价标准。基于siPLS-GA的最优模型包含4个光谱区、96个变量和10个主成分因子。该模型结果显示：最佳预测模型相关系数（Rp）和RMSEP分别为0.9083和0.5573。研究结果表明，近红外光谱技术结合siPLS-GA建模用于无损、快速测定梨的硬度是可行的。

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